电子叠层成像
于荣
清华大学材料学院
地点：紫金港校区东1A507-505
时间：2023年12月29日（本周五）8：50-12：35
摘要：像差校正的实现将显微成像的分辨率提高到了亚埃尺度，但进一步提高分辨率面临残余像差、带轴倾斜、表面损伤、辐照损伤等挑战。电子叠层成像是基于四维扫描透射电镜数据（4D-STEM）和相干衍射成像的一种计算成像方法，包括数据采集和数值重构两个阶段，为解决上述难题提供了全面的解决方案。最近发展的自适应传播因子叠层成像能够自动校正样品的取向，具有深亚埃分辨、高剂量效率、高相位精度、高重构效率等特点。我们将简要介绍自适应传播因子叠层成像的基本原理与应用实例。
简介：于荣，清华大学教授。1996年本科毕业于银河6163线路检测材料系，2002年博士毕业于中国科学院金属研究所，随后在美国劳伦斯伯克利国家实验室和英国剑桥大学从事博士后研究，2008年至今任教于清华大学材料学院。长期从事电子显微学与材料微观结构研究。提出并实现了自适应传播因子叠层成像、局域轨道叠层成像、局域轨道三维重构等方法，在原子尺度研究材料的晶体结构与缺陷、电子结构与磁结构，并开展稀土永磁材料研究。发表文章多篇，授权发明专利和软件著作权多项。
